大電流探針常見(jiàn)問(wèn)題

測(cè)試過(guò)程中的問(wèn)題

與DUT接觸不良：大電流探針未與被測(cè)設(shè)備（DUT）完全接觸，會(huì)影響信號(hào)或電流從DUT傳遞給測(cè)試人員，使用錯(cuò)誤的探針尖端也可能導(dǎo)致接觸問(wèn)題。

彈簧探針力弱：彈簧探針的力是測(cè)試探針的壓力，力弱會(huì)影響與DUT的緊密接觸，不利于測(cè)試。

夾具板散熱效果不好：探針作為接觸大電流DUT的導(dǎo)體，在大電流測(cè)試過(guò)程中會(huì)散發(fā)熱量，若夾具板散熱效果差，會(huì)影響探針承載大電流的性能。

電流理解有誤：容易誤解連續(xù)電流和峰值電流，連續(xù)電流是連續(xù)提供的穩(wěn)定值，而峰值電流是在供電期間出現(xiàn)的最高電流值。

連接方法不良：采用不良測(cè)試探針插座連接方法，以及普通的測(cè)試探針用于測(cè)試大電流DUT，都可能導(dǎo)致測(cè)試問(wèn)題，如標(biāo)準(zhǔn)接觸式探針在大電流測(cè)試中可能會(huì)被燒毀。

自身?yè)p壞問(wèn)題

滑動(dòng)夾子外觀損壞：電流探頭的滑動(dòng)夾子外觀損壞，可能會(huì)影響測(cè)試準(zhǔn)確性。

電纜線斷路：電纜線被太使勁拉、扭等容易損壞，造成斷路，影響測(cè)試。

磁環(huán)及線圈問(wèn)題：磁環(huán)是易碎材料，掉地或使用時(shí)用力過(guò)猛會(huì)使其破損，有損壞的磁環(huán)會(huì)造成測(cè)試不準(zhǔn)或不能再測(cè)出電流；磁環(huán)線圈比較細(xì)，過(guò)流會(huì)導(dǎo)致線圈燒毀。

電路板損壞：電流放大器開(kāi)電后，插拔電流探頭可能會(huì)引起電路板損壞。

讀數(shù)不準(zhǔn)確問(wèn)題

內(nèi)部電路故障：電流表（可類比大電流探針檢測(cè)原理）內(nèi)部電路可能存在故障，例如電源、線圈或靈敏度調(diào)節(jié)器出現(xiàn)問(wèn)題，導(dǎo)致指針移動(dòng)不當(dāng)或錯(cuò)誤，從而影響讀數(shù)。

電源電壓?jiǎn)栴}：如果大電流探針使用的電源電壓低于或高于其規(guī)定的電源電壓，則可能導(dǎo)致錯(cuò)誤的讀數(shù)。

磁場(chǎng)影響：大電流探針可能被暴露在磁場(chǎng)中，例如附近有強(qiáng)磁鐵或變壓器，這可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。

電路多余電流：電路中可能存在多余的電流，例如在電路中使用被非法連接的電子器件、過(guò)高的負(fù)載、導(dǎo)線損耗等引起的電阻變化等，這些因素可以導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。